Yoha Solar a terminé l'inspection en usine d'un testeur d'électroluminescence (EL) de module tandem pérovskite / silicium et a emballé le système pour l'expédition à un institut de recherche du Shandong, en Chine.L'équipement soutiendra la recherche de l'institut sur les cellules en tandemL'unité a quitté Wuhan via des services logistiques dédiés.Les ingénieurs de Yoha Solar effectueront le positionnement sur place, installation et mise en service.
La technologie tandem pérovskite/silicone est l'une des voies les plus surveillées vers une plus grande efficacité photovoltaïque, avec des rendements de cellules à l'échelle du laboratoire dépassant déjà 33%.la structure empilée pose également un défi pour l'inspection des défautsLes cellules supérieures et inférieures étant intégrées dans un seul appareil, les images EL classiques peuvent contenir des signaux des deux couches.ce qui rend difficile de déterminer si une zone sombre provient de la couche de pérovskite ou de la couche de siliciumPour les chercheurs, l'identification de la source d'un défaut est essentielle pour une analyse ultérieure du mécanisme de défaillance et pour tirer des conclusions fiables dans les publications académiques.
Le testeur répond à ce défi grâce à une imagerie à double spectre et à résolution de couche.chacune configurée pour capturer indépendamment la bande d'émission de la cellule supérieure en pérovskite ou de la cellule inférieure en siliciumLes deux images sont acquises et stockées séparément, ce qui permet aux chercheurs d'identifier quelle couche contient des défauts tels que des micro-fissures, des doigts cassés, de mauvais joints de soudure, des trous d'épingle, des défauts de la surface de la pièce, etc.délamination de l'interfaceAvec une résolution de caméra de 20 mégapixels, le système peut capturer des défauts fins associés à des fissures inférieures à 0,03 mm.Cette capacité est particulièrement utile pour les équipes de recherche qui étudient les premiers stades de dégradation aux interfaces tandem-cellule.
Les laboratoires universitaires ont des besoins d'essais différents de ceux des chaînes de production de masse.Le testeur fournit une zone d'essai efficace couvrant des longueurs de 250 à 900 mm et des largeurs de 250 à 700 mm.Sa source d'alimentation en courant continu programmable prend en charge les 0200 V et 020 A, répondant ainsi aux exigences d'injection haute tension des essais en tandem.La chambre noire entièrement fermée élimine la nécessité de construire une chambre noire séparéeLe temps d'acquisition de l'image est réglable de 100 à 700 ms, ce qui rend pratique la capture d'images de centaines d'échantillons en une journée.
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En plus des modules en tandem, le système prend en charge les technologies classiques de cellules en silicium cristallin, y compris PERC, TOPCon et HJT, ainsi que les cellules à perovskite à jonction unique.Cette flexibilité permet à un laboratoire d'utiliser un seul système pour plusieurs tâches de recherche et d'utiliser plus efficacement son budget d'équipement. Le logiciel prend en charge la numérisation des codes à barres, le stockage catégorisé des résultats des tests, et l'agrandissement d'image en double clic pour inspecter les caractéristiques fines.permettre aux autorités de surveillance de retracer les données historiques, et permettent aux équipes de recherche d'exporter des images pour des articles universitaires.
Cette livraison marque une autre livraison de Yoha Solar à un institut de recherche pour des tests liés à la pérovskite.Des simulateurs solaires à LED à l'état stable aux testeurs EL/PL intégrés et aux systèmes EL dédiés pour les modules tandem, Yoha Solar continue de développer son portefeuille d'équipements d'inspection en réponse aux besoins pratiques de la recherche académique et de l'industrie photovoltaïque.Les ingénieurs de Yoha Solar assureront l'installation sur place, la mise en service et la formation des opérateurs afin que l'équipe de recherche puisse commencer à collecter des données le plus rapidement possible.L'équipement fournira également un outil d'inspection important pour les futures études de fiabilité des modules en tandem.